VRSTIČNI ELEKTRONSKI MIKROSKOP ZA SLIKANJE IN RENTGENSKO MIKROSKOPIJO PRI NIZKEM VAKUUMU
Rok za prijavo je potekel.
Predmet javnega naročila je nakup vrstičnega elektronskega mikroskopa (SEM) visoke ločljivosti za mikroskopijo pri pogojih visokega in spremenljivega (nizkega) vakuuma z integriranim EDS za preučevanje trdih in mehkih (neprevodnih) vzorcev za pedagoške in znanstveno-raziskovalne namene.