NAKUP REFLEKTRONSKE STOPNJE MASNEGA SPEKTROMETRA TOF ZA MeV-SIMS
Rok za prijavo je potekel.
Predmet javnega naročila je nabava reflektronske stopnje masnega spektrometra TOF za metodo MeV-SIMS, ki ga bomo uporabljali za merjenje lateralnih molekularnih porazdelitev v bioloških materialih s fokusiranim žarkom visokoenergijskih težkih ionov, npr. 6 MeV Cl ioni, na postaji z visokoenergijskim fokusiranim ionskim žarkom IJS. Reflektronska stopnja ne potrebuje lastne mehanske podpore, instalirana bo kot ekstenzija na obstoječi linearni masno spektrometer TOF. Reflektronska stopnja vključuje detektor sekundarnih ionov s postakceleracijo za detekcijo težkih molekularnih ionov.