Nabava opreme za površinsko analizo v spektroelektrokemijskih študijah in komore za delo v inertni atmosferi
Rok za prijavo je potekel.
Javno naročilo je razdeljeno na tri (3) sklope, in sicer:\n Sklop 1: Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS);\n Sklop 2: Mikroskop na atomsko silo (angl. Atomic force microscope, AFM);\n Sklop 3: Komora za delo v inertni atmosferi.\n\nPodrobnejša specifikacija javnega naročila, roki dobave oziroma izvedbe ter ostale zahteve so razvidne iz priloge »Tehnične specifikacije«.