Nabava opreme za površinsko analizo v spektroelektrokemijskih študijah
Rok za prijavo je potekel.
Javno naročilo zajema nabavo masne spektrometrije sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS). Podrobnejša specifikacija javnega naročila, roki dobave oziroma izvedbe ter ostale zahteve so razvidne iz priloge »Tehnične specifikacije«. Javno naročilo je enotno in ni razdeljeno na sklope.