Integrirani sistem konfokalnega Ramanskega mikroskopa in mikroskopa na atomsko silo omogoča naslednje funkcionalnosti: \na) opazovanje, zajem in obdelava vidne mikroskopske slike;\nb) točkovne meritve lastnosti na principu Raman spektroskopije in fotoluminiscenčne spektroskopije v dveh in treh dimenzijah, kar omogoča mikroskopsko Ramansko mapiranje površine in volumna vzorcev na zraku (površine in prerezi razsutih prostih delcev, granul, pelet, tablet, kapsul, filmov, laminatov, ekstrudatov, itd.) ter v tekočem mediju (vlakna, delci, celice, tkiva, itd.) v načinu obsevanja z laserskim žarkov skozi objektiv nad vzorcem in sledečega zajemanje in merjenja lastnosti odbitega laserskega žarka skozi isti objektiv;\nc) merjenje topografskih, adhezivnih in mehanskih lastnosti površine farmacevtskih vzorcev z mikroskopom na atomsko silo v različnih izpeljankah kontaktnega načina, tapkanja in brezkontaktnega načina;\nd) programska oprema omogoča nadzor instrumenta, zajem in shranjevanje 2D, 3D in hi

Več na portalu javnih naročil